トレンドエッジ欠陥モードのアルゴリズム
3 基本アルゴリズム
コンデンサのバリ検査
❶ ワークの形状に沿って、最大 5000点の
エッジを検出する 。緑 丸 がエッジ検出点 ）
（
❷ ❶で求 めたエッジ点 からワーク輪 郭と思
わ れる、基準モデル線を推定して検出する。
基準モデル線
❸ 基準モデル線から、一定以上乖離したエッ
ジ点を不良（バリ・欠け）として検出する。
検出のしきい値
欠陥レベル エッジ点と基準モデル線との距離（画素数）を示します。 ＝欠陥の高さ
欠陥セグメント数 欠陥部分（検出しきい値を超える部分）のエッジ点数 ＝欠陥の幅
欠 陥 量 欠 陥部分の各エッジ点の基準モデル線からの距離をすべて足したもの。 ＝欠陥の面積
トレンドエッジ欠陥の詳細設定項目
1 基 準モデル 線 の定 義
直線 円 楕円 自由曲線
＊自由曲線に対応できるためにあらゆるワークでバリ･ 欠けを安定検出できます。
2 欠 陥 検 出 方 向 決 定（ バ リ/ 欠 損 / バ リ＆ 欠 損 ）
+ - +/-
3 平 滑 化 範 囲（ 0 ∼ 1 0 0 ％ ）
基準モデル線をどれだけ検査画像のエッジ点に添わせるかを自由に調整できます
（平滑 化 範 囲 4 0％） （平滑 化 範 囲 20％） （平滑 化 範 囲1％）
03
最新検 査アルゴリズムを基 礎から学ぶ
画
像
道
場
あらゆるワークの微小なバリ 欠けを検 出 す る 最 新 ア ル ゴ リ ズ ム
・テーマ トレンドエッジ欠陥モード
トレンドエッジ 欠 陥 モ ードとは
1
「外観検査」といえば、ワーク表面の汚れ・異物検査が一番多い用途であり、そのための傷モードの効果や進化については
画像道場中級編②で説明しました。 しかし、傷モードだけでは検出できない外観異常に 「バリ・欠け」があり、この検出に
今まで多くの方が苦労されていました。 新開発の「トレンドエッジ欠陥モード」とは、バリ・欠け検査に特化して、 あらゆる
ワークに対応できる能力を持っています。 今回は直線でも、自由曲線でもあらゆるワークのバリ・ 欠けを検出できた実例
とそのアルゴリズムを紹介いたします。
金属板の破断検査
画像処理
拡 大
上のような金属板の破断検査は、ワークエッジ部を
囲むだけで検出できます。エッジ部を囲むと、自動で
多数のエッジ検出をします。
（右上処理後画像）この
多点情報から、理想のモデル線を自動生成し、その
モデル先から外れる点をバリ・欠けとして認識しま
す。
（右下拡大画像）欠け部分に緑の点が10 点以上
あるのがわかります。
傷 モ ードとの 違 い 自由 曲 線 へ の 対 応
：
2
傷モードで のバリ 欠け検 査 能 力とその限 界
・ 傷モードでは検出方向を指定することで、 線と円周の端面に発 生したバリ 欠けの検 査は可能です。
直
・ 以下の
「磁 気テー
プ端 部欠陥 検 査 」では検出方向をX に限 定することで、欠陥を確 実に検 査しています。しかし、これが自由に曲率が 変
わる曲 線となると傷モードでの検出は不可能です。 これに対応できるのが、 トレンドエッジ欠陥モードの
「自由曲 線 」対
応の基 準モデル 線 からの乖 離 距 離 検出アルゴリズムとなります。
傷モードで対応できる例 磁気テープ端部欠陥検査
撮像画像 X Y 方向 への 検出（ 安 定 度表 示） X 方向 へ の 検 出（ 安 定 度表 示）
テープ 端 面で 誤 動 作します。 X方向のみの変化を検出することで端面が消去
され、欠陥部のみの検出が可能になります。
傷モードで対応できない例 歪んだテープの曲線上の欠陥検査
撮像画像 X 方向への検出 安 定 度表 示）
（
ワークが曲線となると、X 方向検査で
はワーク端 面自体 が N G 検 出 対 象と
なります。
トレンドエッジ 欠 陥 モ ード なら
ワークを囲むだけで・
・
・ 欠 陥だけを確 実に検出可能！！
この性能を実現するのが自由曲線に対
応した基準モデル線自動生成アルゴリ
ズムです。
基準モデル線
もう１つ例として、円筒状のワークを
斜めから検出した画像です。斜めの
ワーク外周に沿った基準モデル線が
生成されていることが分かります。
02
トレンドエッジ欠陥を駆使すればここまで検出できる
4
❶ 樹 脂ボトルの凹み 検 査 多点情 報により微 妙な凹みを確 実に検出
：
❷ レンズの端面クラック検 査 前処 理フィルタを活用して見えない程 度のクラックを検出
：
❸ ケーブルの 傷 検 査 レーザ光を 使った光 切 断 法を活用して微小 な傷 を安定検出
：
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C
04
１ ０ mm
００
２μm
LK-G S eries
５０
０ mm
２μm
１０
５ mm
０５
. μm
８ mm
００２
. μm
ミドルレンジ ロングレンジ 高速ロングレンジ 超ロングレンジ
LK-G85 LK-G155 LK-G405 LK-G505
新 開発アルゴリズム
洗練された新開発アルゴリズムによ 従来検出が難しかった対象物も高精度に測定します。
り、
RPDアルゴリズム マルチABLE制御 MRCアルゴリズム
半透明体 透明体 多重反射体
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高速 高精度Ｃ ＤＣ レーザ変位計
・ LK-Gシリーズ NEW
■ 高精度Ｃ Ｄ
Ｃ レーザ式
■ 超高速50kHzサンプリング
■ 高精度±0.02％
■ 高分解能0.01 m
μ
■ 新開発アルゴリズム搭載
■ 透明体 樹脂 金属まで安定測定
・ ・
■ 多機能コントローラ
■ 先進ハイスペック
■ 簡単設定 分析 支援ソフ
・ ト
妥協のないテク ロジーが、
ノ 世界最高、業界最高のハイスペックを実現
世界最速 業界最高精度 クラス最高繰り返し精度
50ｋ ｚ ±0.02％ 0.01 ｍ
Ｈ μ
■ 新開発アルゴリズム
新開発アルゴリズムによ 従来検出が難しかっ
り、 た対象物も高精度に測定
・簡単設定
・受光波形表示
・データス レージ
ト
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半透明体 透明体 多重反射体
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投受光 分離
・ 小型 超高精度
・高精度タイプ LK-G08
LK-G15
LK-G35
8mm
0.01μm
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0.05μm
先進ハイスペック 詳細は P6、7
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ク した。
世界最速 業 界最高精度 クラス最高繰り返し精度
５ｋｚ
０Ｈ ± ．2％
００ ０ 1μｍ
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新 開発アルゴリズム 詳細は P8、9
洗練された新開発アルゴリズムによ 従来検出が難しかった対象物も高精度に測定します。
り、
RPDアルゴリズム マルチABLE制御 MRCアルゴリズム
半透明体 透明体 多重反射体
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