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平削り Planing
平削り盤 Planer
ひ︱ 平削りフライス盤 Planer type milling
ふ 比率 Ratio
疲労試験機 Fatigue testing machine
疲労寿命 fatigue life
品質 Quality
品質管理 Quality control
ピンホール Pinhole
品目マスター Item master
ファイバスコープ Fiber scope
ファイル File
ファイル形式 File format
ファイル名変更 Rename
負圧 Negative pressure
負圧型 Negative pressure type
フィードバック制御 Feedback control
不一致出力 Mismatch output
フィルタ Filter
フェイルセーフ Fail-safe
フォーカス Focus
フォント Font
深穴加工 Deep hole drilling machine
付加価値 Added value
付加機能 Added function
深絞り Deep drawing
不活性ガス Inert gas
復元 Restore
複振幅 Double amplitude
符号ビット Symbol bit
メリット②画像センサの座標データでフィードバック制御
例）画像検査のアライメント調整
画像検査のアライメント調整を行ないます
基準点の計測データを画像から読み出し、PLCからＡＣサーボモータを制御することでステージ
を補正します
KV-1000なら、KVスクリプトで複雑な演算も簡単に記述可能
KV-1000は、ラダーと完全に混在して使用できるKVスクリプトを搭載
複雑な演算式も、簡単に誰が見てもわかりやすく記述することができます
画像からの座標データを元にした、三角関数などの計算に最適です
6
画像センサ⇔PLC
Ethernet 接続アプリケーション
アプリケーション② 制御
画像センサの座標データでフィードバック制御
例）画像検査のアライメント調整
画像検査のアライメント調整を行ないます
基準点の計測データを画像から読み出し、PLCからＡＣサーボモータを制御することで
ステージを補正します
KV-5000/3000シリーズなら、
KVスクリプトで複雑な演算も簡単に記述可能
KV-1000は、ラダーと完全に混在して使用できるKVスクリプトを搭載。
複雑な演算式も、簡単に誰が見てももわかりやすく記述することができます。
画像からの座標データを元にした、三角関数などの計算に最適です。
メリット②画像センサの座標データでフィードバック制御
例）画像検査のアライメント調整
画像検査のアライメント調整を行ないます
基準点の計測データを画像から読み出し、PLCからＡＣサーボモータを制御することでステージ
を補正します
KV-1000なら、KVスクリプトで複雑な演算も簡単に記述可能
KV-1000は、ラダーと完全に混在して使用できるKVスクリプトを搭載
複雑な演算式も、簡単に誰が見てもわかりやすく記述することができます
画像からの座標データを元にした、三角関数などの計算に最適です
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2-12 外部機器とのシリアル通信例
■既存処理プログラムへの組み込み例2
• MATLAB などの演算処理ソフトにからもデータ取得が可能です。
2 サイバネットシステム社MATLAB での通信プログラム例
s = serial('COM1'); %COM1 指定
set(s,'BaudRate',9600); %9600bps
寸法測定器を 活用するために
set(s,'DataBits',8);
set(s,'Parity','none');
set(s,'StopBits',1);
set(s,'Terminator',13); %最後にCR を付ける
fopen(s);
fprintf(s,'M0') %M0 コマンド送信
out = fscanf(s); %返信受信
fclose(s)
delete(s)
clear s
注）このプログラムを実行した結果につきまして、キーエンスは責を負いません。
プログラムの作成方法、詳細についてのお問い合わせはご容赦ください。
■PLC での例（KV-1000 シリーズのでの通信例）
• 製造ラインでフィードバック制御などに
KV-1000+KV-L20RとPROTOCOL
ST UD IOを用い ると接 続 機 器にLS -
7600を選ぶだけでラダープログラム
作成に時間をかけずにプログラム作成
が可能です。
2-18
2-12 外部機器とのシリアル通信例
■既存処理プログラムへの組み込み例2
• MATLAB などの演算処理ソフトにからもデータ取得が可能です。
2 サイバネットシステム社MATLAB での通信プログラム例
s = serial('COM1'); %COM1 指定
set(s,'BaudRate',9600); %9600bps
寸法測定器を 活用するために
set(s,'DataBits',8);
set(s,'Parity','none');
set(s,'StopBits',1);
set(s,'Terminator',13); %最後にCR を付ける
fopen(s);
fprintf(s,'M0') %M0 コマンド送信
out = fscanf(s); %返信受信
fclose(s)
delete(s)
clear s
注）このプログラムを実行した結果につきまして、キーエンスは責を負いません。
プログラムの作成方法、詳細についてのお問い合わせはご容赦ください。
■PLC での例（KV-1000 シリーズのでの通信例）
• 製造ラインでフィードバック制御などに
KV-1000+KV-L20RとPROTOCOL
ST UD IOを用い ると接 続 機 器にLS -
7600を選ぶだけでラダープログラム
作成に時間をかけずにプログラム作成
が可能です。
2-18
Ionizing technology 放電による静電気障害編 No.7
除電器の最新テクノロジー紹介
■Ｄｕａｌ Ｉ．Ｃ．Ｃ．制御
キーエンス製の除電器ＳＪ−Ｈシリーズは全ての型式に好評の「Ｉ．Ｃ．Ｃ．制御」をさらに改良した、
「Ｄｕａｌ Ｉ．Ｃ．Ｃ．制御」を搭載しています。
テクノロジー
従来のパルス幅の可変によるイオン生成量のコントロールに加えて新たに、印加電圧の変化も可能にしています。
単位時間当たりのイオン生成量のコントロールがより広く可能になりました。
メリット
「Ｄｕａｌ Ｉ．Ｃ．Ｃ．制御」を搭載することによるメリットは次の３点です。
①イオンバランスの自動調整
②帯電物の帯電量を感知、帯電量に応じたイオンを発生
③経時変化に対する除電能力の維持
一般的な除電器の場合、使用していくと除電能力が低下します。
それにたいして「Ｄｕａｌ Ｉ．Ｃ．Ｃ．制御」を搭載したＳＪ−Ｈシリーズは常にイオンの発生状態をセンシングし、
イオンの放出量をフィードバック制御しているため、経時的な能力劣化、
特にイオンバランスの悪化を低減しています。
http://www.keyence.co.jp/seidenki
「静電気・除電器 に関 する最 新情報 はこちら」 静 電気対 策・クリーン機 器オンライン
0120-66-3000
技 術相談、 お問合 せ 株式会社キーエンス
Ionizing technology 微粒子の運動とコンタミネーション編 No.5
除電器の最新テクノロジー紹介
■Ｄｕａｌ Ｉ．Ｃ．Ｃ．制御
キーエンス製の除電器ＳＪ−Ｈシリーズは全ての型式に好評の「Ｉ．Ｃ．Ｃ．制御」をさらに改良した、
「Ｄｕａｌ Ｉ．Ｃ．Ｃ．制御」を搭載しています。
テクノロジー
従来のパルス幅の可変によるイオン生成量のコントロールに加えて新たに、印加電圧の変化も可能にしています。
単位時間当たりのイオン生成量のコントロールがより広く可能になりました。
メリット
「Ｄｕａｌ Ｉ．Ｃ．Ｃ．制御」を搭載することによるメリットは次の３点です。
①イオンバランスの自動調整
②帯電物の帯電量を感知、帯電量に応じたイオンを発生
③経時変化に対する除電能力の維持
一般的な除電器の場合、使用していくと除電能力が低下します。
それにたいして「Ｄｕａｌ Ｉ．Ｃ．Ｃ．制御」を搭載したＳＪ−Ｈシリーズは常にイオンの発生状態をセンシングし、
イオンの放出量をフィードバック制御しているため、経時的な能力劣化、
特にイオンバランスの悪化を低減しています。
http://www.keyence.co.jp/seidenki
「静電気・除電器に関する最新情報はこちら」 静電気対策・クリーン機器オンライン
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技術相談、お問合せ 株式会社キーエンス
図解 簡単ＡＦＭ入門（Vol.1）
ＡＦＭの仕組み−原理
（3） カンチレバーと試料表面の （6） プローブが試料表面から
距離を 更に近づけたとき、 ジャンプするように離れる
引力と斥力が変わる寸前で 直前の状態です。
プローブにかかる原子間力
離れる 直後
はゼロになります。
（7） プローブが試料表面から
（4） 原子間力（斥力）が働きます。
離れて、原子間力が働か
ない距離まで移動した状
態です。
（5）斥力と引力が変わる寸前で
プローブにかかる原子間力
はゼロになります。
プローブ先端 と試料 表面に働 く力
フォース・カーブで説明しましたカンチレバーのプローブ先端と試料 力
表面との間に働く力と距離の関係をグラフで表すと右図のようになり
ます。プローブ先端と試料表面との間には、距離に応じて引力、斥力
が働くため、カンチレバーにたわみが生じます。
距離
ＡＦＭは、原子間力によって生じたカンチレバーのたわみ量を光学式
の検出器などで読み取り、カンチレバーのたわみ量が一定になるよ
うに圧電セラミックを応用した駆動機構を使って、カンチレバーもしく
は試料を上下に動かします。この駆動系へのフィードバック制御を、
試料表面の高低の変化量としてマッピングすることで映像化します。
ナノスケールハイブリッド顕微鏡
Ionizing technology 静電破壊編 No.8
除電器の最新テクノロジー紹介
■Ｄｕａｌ Ｉ．Ｃ．Ｃ．制御
キーエンス製の除電器ＳＪ−Ｈシリーズは全ての型式に好評の「Ｉ．Ｃ．Ｃ．制御」をさらに改良した、
「Ｄｕａｌ Ｉ．Ｃ．Ｃ．制御」を搭載しています。
テクノロジー
従来のパルス幅の可変によるイオン生成量のコントロールに加えて新たに、印加電圧の変化も可能にしています。
単位時間当たりのイオン生成量のコントロールがより広く可能になりました。
メリット
「Ｄｕａｌ Ｉ．Ｃ．Ｃ．制御」を搭載することによるメリットは次の３点です。
①イオンバランスの自動調整
②帯電物の帯電量を感知、帯電量に応じたイオンを発生
③経時変化に対する除電能力の維持
一般的な除電器の場合、使用していくと除電能力が低下します。
それにたいして「Ｄｕａｌ Ｉ．Ｃ．Ｃ．制御」を搭載したＳＪ−Ｈシリーズは常にイオンの発生状態をセンシングし、
イオンの放出量をフィードバック制御しているため、経時的な能力劣化、
特にイオンバランスの悪化を低減しています。
http://www.keyence.co.jp/seidenki
「静電気・除電器 に関 する最 新情報 はこちら」 静 電気対 策・クリーン機 器オンライン
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